①物理概念不同。
基線平直度：是指儀器全波段內每個波長上的噪聲，與濾光片切換和光源切摸有關。
光度噪聲：是指儀器在500nm波長上的噪聲，與濾光片切換和光源切換無關。
②測試時儀器狀態不同。
基線平直度：儀器處在運動狀態，儀器的波長始終在變化。
光度噪聲：儀器處在靜止狀態；儀器的波長始終不變。
③測試波長位置不同。
基線平直度：測試儀器的全波長范圍內每個波長的噪聲。
光度噪聲：測試儀器固定在500nm處時的噪聲。
④測試時掃描方式不同。
基線平直度：測試時用波長掃描方式。
光度噪聲：測試時用時間掃描方式。
⑤影響因素不同。
基線平直度：主要包括上述七個因素。
光度噪聲：主要是電子元器件（特別是放大器和光電轉換元件）引起，也包含少量的光噪聲。
⑥對分析測試誤差的影響不同。
基線平直度：限制儀器實際可使用的波長范圍，影響儀器波長范圍內的檢測下限，在低濃度測試時是分析誤差的主要來源。
光度噪聲：只影響儀器500nm處的檢測下限，主要作為比較儀器好壞的依據之一，據此能粗略看出儀器性能的優劣。