紫外可見分光光度計基線平直度與基線漂移的主要區別
來源：http://www.xjyndj.com 更新日期：2014-05-26 10:37:00
①物理概念不同。
基線平直度：全波長范圍內各個波長上的噪聲，與濾光片和光源切換有關。
基線漂移：與時間有關的光度值的變化量，主要影響因素是儀器的電子學部分和儀器周圍的環境。
②測試條件不同。
基線平直度：在OA、SBW= 2nm的條件下，進行全波長慢速掃描。
基線漂移：在OA、SBW= 2nm、波長固定為500nm的條件下，儀器冷態開機（關機兩小時后開機），預熱兩小時后，進行時間掃描一小時，取這一小時內最大值與最小值之差。
③影響的因素不同。
基線平直度：影響的因素有前述七個。
基線漂移：主要l因素是儀器的電子學系統（主要是電源）和環境（電磁場、溫度、濕度等）。
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