關于紫外可見分光光度計散光的測試
來源：http://www.xjyndj.com 更新日期：2015-09-09 11:28:32
目前有些紫外可見分光光度計的生產廠商只測試220nm處的雜散光不測試340nm處的雜散光，這是不對的。測試220nm處雜散光的理由是：第一，根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；第二，根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小， 即信號很小，容易顯現雜散光；第三，根據儀器學理論中的光電發射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低，容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是完全不同的， 因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時最容易產生雜散光。所以，對于紫外可見分光光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
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